На конференции были рассмотрены проблемные вопросы комплектации высоконадежной аппаратуры электронной компонентной базой отечественного и иностранного производства (ЭКБ ОП и ИП).
12-я Российская научно-техническая конференция
«СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2013»
Санкт-Петербург, 10-12 апреля 2013 г.
На конференции были рассмотрены проблемные вопросы комплектации высоконадежной аппаратуры электронной компонентной базой отечественного и иностранного производства (ЭКБ ОП и ИП). Подробно были освещены следующие темы:
- Методология выбора ЭКБ ОП и ИП для высоконадежной аппаратуры.
- Оптимизация сертификационных испытаний ЭКБ ИП, обеспечивающих высокую достоверность и снижение стоимости испытаний.
- Радиационная стойкость современной ЭКБ и особенности оценки стойкости ЭКБ в аппаратуре ядерного, атомно-энергетического и космического комплексов.
- Производство радиационно-стойкой и высоконадежной ЭКБ, новые технологии производства ЭКБ.
- Современная роль и место стандартизации в обеспечении комплектации аппаратуры высоконадежной ЭКБ.
На конференции выступили с докладами ведущие специалисты Минобороны, Роскосмоса, Минобрнауки и РАН, фирм-разработчиков РЭА, испытательных сертификационных центров ЭКБ, фирм - изготовителей и разработчиков ЭКБ, аттестованных вторых поставщиков ЭКБ.
Формат конференции предоставил отличные возможности общения, обмена опытом и налаживания новых деловых конактов.