8 февраля 2016г. советом молодых ученых и специалистов АО «РНИИ «Электронстандарт» направлена для публикации в журнале «Известия СПбГЭТУ «ЛЭТИ» статья на тему «Измерение теплового сопротивления кристалл-корпус микросхем и полупроводниковых приборов с использованием тепловизора», автор И.Мартынов.