20 сентября 2016 года представители Совета молодых ученных и специалистов АО «РНИИ «Электронстандарт» и основатель Междисциплинарного ресурсного центра по направлению «Нанотехнологии» на базе Физического факультета Санкт-Петербургского Государственного Университета провели встречу по вопросам совместных исследований материалов и структур современной электронной компонентной базы.

На встрече присутствовали:
Олег Федорович Вывенко - СПбГУ, Междисциплинарный ресурсный центр по направлению «Нанотехнологии», профессор, доктор физ. мат. наук;
Павел Сергеевич Кувалкин - АО «РНИИ «Электронстандарт», инженер сопровождения оборудования чистых комнат, ведущий инженер;
Константин Александрович Молчанов - АО «РНИИ «Электронстандарт», отдел физико-технического анализа (ФТА), ведущий инженер;
Марта Игоревна Звягина - АО «РНИИ «Электронстандарт», отдел ФТА, инженер.

По итогам встречи стороны пришли к выводу: технологические возможности Междисциплинарного ресурсного центра СПбГУ позволяют расширить имеющиеся в активе АО «РНИИ «Электронстандарт» методы выявления признаков контрафактной продукции и решать задачи исследований материалов и структур электронной компонентной базы в части:
 - спектрального анализа вещества с применением методов Фурье-ИК-спектрометрии, комбинационного рассеяния света, растровой электронной микроскопии с интегрированной системой лазерной абляции;
 - создания тонких (до десятков микрон) полупроводниковых пластин с малой шероховатостью;
 - создания срезов структур для проведения прецизионного послойного анализа методами оптической и растровой микроскопии.