·        разработка методов ускоренной оценки безотказности изделий электронной техники, выпускаемых единичными образцами и малыми партиями при разном характере производства (прерывистом или неритмичном);

·        совершенствование справочно-информационной системы и пополнение базы данных по надежности и радиационной стойкости ИС по результатам испытаний и расчетов;

·        разработка методик экспресс-проверки качества перспективных электронных компонентов зарубежного производства;

·        совершенствование методов физико-технического анализа полупроводниковых и наноструктур и физико-технического моделирования процессов функционирования электронных компонентов и изделий наноэлектроники;

·        разработка методов обеспечения радиационной и электромагнитной стойкости ЭКБ и наноэлектроники, работающих в составе аппаратуры с особыми условиями эксплуатации;

·        разработка нормативно-технической документации на ЭКБ и изделия наноэлектроники (ГОСТ, ОТУ, ГТУ, ТУ, РД), ведение базы данных по качеству продукции;

·        оптимизация состава и разработка методов квалификационных, сертификационных, отбраковочных испытаний;

·        разработка расчетных и экспериментальных методов оценки надежностных характеристик изделий электроники, включая наноэлектронику, в том числе в условиях постоянно действующих радиационных и сильных электромагнитных полей;

·        проведение научно-технической экспертизы и анализ отказов ЭКБ и наноэлектроники в процессе производства и эксплуатации;

·        оценка радиационной стойкости ЭКБ и наноэлектроники при воздействии ионизирующего излучения.